公司专业发研发团队开创了全新一代 EFP 核心算法，开发了高集成的四焦技术、闭环移动控制及 AI 影像识别高精度上照式X荧光膜厚仪。为微小面积、异形高低面、多层多元素与不同层同元素的检测提供稳定高效的无损自动检测解决方案。高精度上照式X荧光膜厚仪广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED 和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造域。

公司专业发研发团队开创了全新一代 EFP 核心算法，开发了高集成的四焦技术、闭环 移动控制及 AI 影像识别全自动X射线膜厚仪。为微小面积、异形高低面、多层多元素与不同层同元素的检测提供稳定高效的无损自动检测解决方案。全自动X射线膜厚仪广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED 和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造域。

公司拥有业的研发团队，开创了全新一代 EFP 核心算法，开发了高集成的四焦技术、闭环 移动控制及 AI 影像识别，全自动镀层测厚仪。为微小面积、异形高低面、多层多元素与不同层同元素的检测提供稳定高效的无损自动检测解决方案。 公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED 和照明、家 用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造域。

公司拥有业的研发团队，开创了全新一代 EFP 核心算法，开发了高集成的四焦技术、闭环 移动控制及 AI 影像识别，磁材镍铜镍测厚仪。为微小面积、异形高低面、多层多元素与不同层同元素的检测提供稳定高效的无损自动检测解决方案。 公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED 和照明、家 用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造域。

公司拥有业的研发团队，开创了全新一代 EFP 核心算法，开发了高集成的四焦技术、闭环 移动控制及 AI 影像识别，磁钢镍铜镍测厚仪。为微小面积、异形高低面、多层多元素与不同层同元素的检测提供稳定高效的无损自动检测解决方案。 公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED 和照明、家 用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造域。